射频测试¶
1 功能概述¶
本文主要介绍 PAN271x RF测试固件的使用。
2 环境要求¶
PAN271x EVB 若干块
USB转串口工具若干块
硬件接线：
使用杜邦线连接 EVB 和 USB 转串口工具:
UART1_Rx (P00) 与 USB 转串口工具 TX 连接
UART1_Tx (P01) 与 USB 转串口工具 RX 连接
Panchip ToolBox 下载
USB TYPE-C 线
3 RF测试固件说明¶
NO |
固件说明 |
下载链接 |
更新日期 |
|---|---|---|---|
1 |
RF性能测试(发射功率、频偏、EVM、对测收包率等) |
2025-10-16 |
4 演示说明¶
PAN271x EVB 板 PIN 脚接线说明：
PAN271x EVB 板 GPIO |
USB转串口工具 |
|---|---|
UART1_Rx (P00) |
UART_TX |
UART1_Tx (P01) |
UART_RX |
VBAT (VDD) |
VCC(3.3V) |
GND |
GND |
RF 性能测试需通过 PAN271x Toolbox 工具箱工具进行测试：
用 PANLink 或者 JLink 烧录固件 “PAN271x RF测试固件”。
PAN271x RF 测试固件可从前面列出的 WiKi 链接下载，也可直接从 PAN271x DK 开发套件中找到（位于：
<PAN271x-DK>/04_TOOLS/RF测试固件）。测试流程可参考 Panchip Toolbox 工具箱 文档第一章 RF 测试说明。
UART 通信波特率: 115200
典型的测试场景
TX 测试，可以通过软件发送单载波和dtm数据包（下图是一个单载波的典型配置界面），通过频谱仪观察射频状况
图-1 单载波配置界面¶
RX 测试可以打开2个软件，控制2个 PAN271x 芯片，一个设置为tx模式，一个设置为rx模式，tx 端设置 tx counts 发送， rx 端打印收到的 counts，进而判断 rx 的 质量和灵敏度。