当前文档为 本地版本 (v0.1.0)，您可以访问当前页面的 在线版本 以获取最近可能的更新。

# CLKTRIM

## 1 功能概述

本例程演示演示 ClkTrim Driver 的基本功能与使用方法。

## 2 环境准备

- 硬件设备与线材：

  - PAN271x EVB 核心板与底板各一块

  - JLink 仿真器（用于烧录例程程序）

  - USB-TypeC 线一条（用于底板供电和查看串口打印 Log）

  - 杜邦线数根或跳线帽数个（用于连接各个硬件设备）

- 硬件接线：

  - 将 EVB 核心板插到底板上

  - 连接串口转USB调试模块：

    - 使用 USB-TypeC 线，将 PC USB 插口与 EVB 底板 USB->UART 插口相连

    - 使用杜邦线或跳线帽将 EVB 底板 `J8` 排针对 (P06 & TXD) 和 `J9` 排针对 (P05 & RXD) 分别短接起来

  - 连接 Jlink，使用杜邦线将 JLink 仿真器的：

    - SWD_CLK 引脚与 EVB 底板的 P00 排针相连

    - SWD_DAT 引脚与 EVB 底板的 P01 排针相连

    - SWD_GND 引脚与 EVB 底板的 GND 排针相连

## 3 编译和烧录

例程位置：`<PAN271x-DK>\01_SDK\samples\drivers\clktrim`

双击 Keil Project 文件打开工程进行编译烧录。

## 4 例程演示说明

1. 烧录完成后，芯片会通过串口打印初始化 Log：

       CPU @ 48000000Hz
       +----------------------------------------------------------------------------------+
       |                      PAN271 Clk source to be tested.                             |
       +----------------------------------------------------------------------------------+
       |    Press key to select clk source to be tested:                                  |
       |    Input '0'    Clk source select internal clk.                                  |
       |    Input '1'    Clk source select external clk.                                  |
       +----------------------------------------------------------------------------------|

2. 串口输入字符‘0/1’，选择待测量时钟为内部RCL或者外部时钟源，此处外部时钟为PWM 100K Hz，输入PIN为P20。

       +------------------------------------------------------------------------------------+
       |                      PAN271 Clk measure sample number select.                      |
       +------------------------------------------------------------------------------------+
       |    Press key to select sample number:                                              |
       |    Input '0'    Sample number select 1.                                            |
       |    Input '1'    Sample number select 2.                                            |
       |    Input '2'    Sample number select 4.                                            |
       |    Input '3'    Sample number select 8.                                            |
       |    Input '4'    Sample number select 16.                                           |
       |    Input '5'    Sample number select 32.                                           |
       |    Input '6'    Sample number select 64.                                           |
       |    Input '7'    Sample number select 128.                                          |
       +------------------------------------------------------------------------------------+

3. 串口输入字符‘0~7’，选择采样次数，最终测量的cnt值为 采样次数的cnt平均值，这里输入1。

       +------------------------------------------------------------------------------------+
       |                      PAN271 Clk measure edge mode select.                          |
       +------------------------------------------------------------------------------------+
       |    Press key to select edge mode:                                                  |
       |    Input '0'    Edge mode select rising.                                           |
       |    Input '1'    Edge mode select failing.                                          |
       |    Input '2'    Edge mode select high voltage(only one time sample).               |
       |    Input '3'    Edge mode select low voltage(only one time sample).                |
       +------------------------------------------------------------------------------------+

4. 串口输入字符‘0~3’，选择开始采样触发沿，此处注意高电平与低电平模式仅采样一次，高电平模式先上升沿后下降沿表示有效开始采样，低电平模式先下降沿后上升沿表示有效开始采样，此处以下降沿为例（输入0）。

       内部RCL：
       measure done
       measure clk is 32M clk, real freq is :33143.45
       外部PWM
       measure done
       measure clk is 32M clk, real freq is :100000.00

## 5 RAM/Otp资源使用情况

- Otp Size: 8.57kB

- RAM Size: 0.52kB

版本选择及下载 v: 0.1.0

版本选择
  latest
  0.1.0

下载
  PAN271x 开发套件文档（PDF）

相关链接
  PAN271x 系列产品 WIKI
  PAN271x 系列产品技术论坛
  上海磐启微电子有限公司